KM-GX 根系分析仪用于对洗净后的根系图像进行多参数、批量化的自动分析，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。

KM-GX 根系分析仪技术参数：

1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。根系反射稿幅面为355.6mm×215.9mm，透扫幅面为304.8mm×203.2mm，最小像素尺寸0.005mm×0.0026 mm。

2、可分析测量：

（1）根总长；

（2）根平均直径；

（3）根总面积；

（4）根总体积；

（5）根尖计数；

（6）分叉计数；

（7）交叠计数；

（8）根直径等级分布参数；

（9）根尖段长分布；

（10）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数。

（11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。

（12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得正确的结果。

（13）能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。

（14）大批量的全自动根系分析，对各分析结果图可编辑修正。

（15）能做根系生物量分布的大批量自动化估算。

（16）具有向地角分析、路径分析、主根提取分析特性。